TEM studies of Au/Si epilayer interfaces

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DOITrouver le DOI : http://doi.org/10.1017/S1431927609095658
AuteurRechercher : ; Rechercher : ; Rechercher : ; Rechercher : ; Rechercher : ; Rechercher :
TypeArticle
Titre du compte renduMicroscopy and Microanalysis
ConférenceMicroscopy and Microanalysis 2009, 26-30 July 2009, Richmond, Virginia, USA
Volume15
NuméroSupplement S2
Pages14501451; nbre. de pages : 2
Date de publication
Maison d’éditionCambridge University Press
Langueanglais
AffiliationInstitut national de nanotechnologie; Conseil national de recherches Canada
Publications évaluées par des pairsOui
Numéro NPARC19739576
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Identificateur de l’enregistrement3baca7a4-50f2-4557-923f-ac2c9708d2b8
Enregistrement créé2012-03-30
Enregistrement modifié2016-05-09
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