The linewidth broadening factor: a length-scale-dependent analytical approach

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DOITrouver le DOI : http://doi.org/10.11648/j.nano.20170501.11
AuteurRechercher : ; Rechercher : ; Rechercher : ; Rechercher :
TypeArticle
Titre de la revueAmerican Journal of Nano Research and Applications
ISSN2575-3738
Volume5
Numéro1
Pages16
Sujetα–factor; linewidth; enhancement; scattering; spontaneous emission; exciton; mesoscopic; quantum dot
RésuméA first-order frequency-dependent formula of the linewidth broadening factor (α–factor) is derived in terms of scattering rates whilst, a mesoscopic disk approach is used in order to accompany the dimension effect to the spontaneous emission lifetime (inverse of scattering rate). An excitonic correction to the relaxation properties is shown to occur provided the binding energy of the electron and hole is comparable to their eigenenergy-separation. The ensuing analysis is independent of the selected III-V material system and resides upon three simplifying assumptions which allow for analytical formulae to be derived.
Date de publication
Maison d’éditionScience Publishing Group
Langueanglais
AffiliationConseil national de recherches Canada; Électronique et photonique avancées
Publications évaluées par des pairsOui
Numéro NPARC23002467
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Identificateur de l’enregistrement80ed0a00-3c4e-4b50-ba64-abbeff96a538
Enregistrement créé2017-11-14
Enregistrement modifié2017-11-14
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