Simple scaling law for positron stopping in multilayered systems

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DOITrouver le DOI : http://doi.org/10.1063/1.111081
AuteurRechercher :
TypeArticle
Titre de la revueApplied Physics Letters
Volume64
Numéro5
Pages661663; nbre. de pages : 3
Sujetalgorithms; backscattering; crystal defects; data analysis; depth profiles; interfaces; monte carlo method; multilayers; positron probes; scaling laws; scattering theory; stopping power
RésuméUsing a simple model to take into account the backscattering effects of interfaces we have developed a scheme which removes the necessity for time-consuming Monte Carlo calculations in the generation of positron stopping profiles in multilayer systems. This scheme uses tabulated mean depth and backscattering fraction data for positrons in the materials constituting the multilayer and represents a computation time saving of several orders of magnitude. This makes detailed multilayer defect profiling with positrons a practical possibility.
Date de publication
Langueanglais
AffiliationConseil national de recherches Canada; Institut des sciences des microstructures du CNRC (ISM-IMS)
Publications évaluées par des pairsNon
Numéro NPARC12328818
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Identificateur de l’enregistrement1172e6b7-c683-4b70-9362-118869adb9df
Enregistrement créé2009-09-10
Enregistrement modifié2016-05-09
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