Limits to the spatial, energy and momentum resolution of electron energy-loss spectroscopy

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DOITrouver le DOI : http://doi.org/10.1016/j.ultramic.2006.11.005
AuteurRechercher :
TypeArticle
Titre de la revueUltramicroscopy
Volume107
Numéro8
Pages575586; nbre. de pages : 12
SujetEELS; Electron scattering; Fourier optics; Radiation effects; TEM
RésuméWe discuss various factors that determine the performance of electron energy-loss spectroscopy (EELS) and energy-filtered (EFTEM) imaging in a transmission electron microscope. Some of these factors are instrumental and have undergone substantial improvement in recent years, including the development of electron monochromators and aberration correctors. Others, such as radiation damage, delocalization of inelastic scattering and beam broadening in the specimen, derive from basic physics and are likely to remain as limitations. To aid the experimentalist, analytical expressions are given for beam broadening, delocalization length, energy broadening due to core-hole and excited-electron lifetimes, and for the momentum resolution in angle-resolved EELS.
Date de publication
AffiliationConseil national de recherches Canada; Institut national de nanotechnologie
Publications évaluées par des pairsNon
Numéro NPARC12338032
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Identificateur de l’enregistrement575613ef-034b-410e-af33-65f9b304be9f
Enregistrement créé2009-09-10
Enregistrement modifié2016-05-09
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